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放射化分析法・PIXE分析法 - 共立出版

放射化分析法・PIXE分析法 - 共立出版
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物体内部のらせん構造の向きを識別するX線顕微鏡 －高性能機能材料デバイスで生じるX線光渦を用いた新しい観察法－（プレスリリース） — SPring-8 Web Site
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電池・キャパシタの負極の解析 - 断面作成・負極表面の皮膜（SEI）分析 | JFEテクノリサーチ
放射光を利用した高度解析技術（1） / in-situ 硬X線XAFS測定 - JFE-TEC News | JFEテクノリサーチ

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